上海儀電 原上海精科/上分 UV-757CRT紫外分光光度計UV757系列紫外可見分(fen)光光度(du)計能在(zai)紫外、可見光譜區域內對樣品物(wu)質作定性和定量的分(fen)析(xi)。該產品可廣泛(fan)應(ying)用于臨床檢(jian)驗(yan)(yan)、生物(wu)化(hua)學、石油化(hua)工、環境保護、質量控制等部門,使理化(hua)實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)常用的分(fen)析(xi)儀器(qi)之一。
上海儀電(dian) UV-757CRT紫外分光光度計(ji)
主機(ji)(ji)功(gong)能:采用微機(ji)(ji)測(ce)量系(xi)統,T-A轉換(huan)精確,自動(dong)調整0%(T)和(he)(he)調整100%(T),具(ju)有(you)GOTOλ,自動(dong)8聯樣品(pin)架,自動(dong)扣除比色皿誤差,濃度多點標(biao)定(ding),斜率和(he)(he)截距設置(zhi)等功(gong)能,具(ju)有(you)RS232接口和(he)(he)并行打印口(打印機(ji)(ji),另行選配)。
聯機功能:
通過RS232串(chuan)行接口,可利用上層軟件作全(quan)波長(chang)掃(sao)描(miao),時間掃(sao)描(miao),濃度回(hui)歸方程(1次(ci)、2次(ci)、3次(ci)),多波長(chang)測試,并大大擴(kuo)展測試功能(除主機功能外)。
技術指標:
● 波長范圍:200nm~1000nm
● 光源:鎢鹵素燈12V20W(進口) DD2.5氘燈(進口)
● 接收元件:光電池
● 波長zui大允許誤差:±0.5nm
● 波長重復性:≤0.2nm
● 光譜帶寬:2nm
● 雜散光:≤0.3%(T)(在220nm處和360nm處,以NaNO2測定)
● 透射比測量范圍:0.0%(T)~200.0% (T)
● 吸光度測量范圍:-0.301(A)~4.000(A)
● 透射比zui大允許誤差:±0.5%(T)
● 透射比重復性:≤0.2%(T)
● 噪聲:100%噪聲≤0.5%(T) 0%噪聲≤0.2%(T)
● 穩定性:≤0.004A/30min
其它:
● 電(dian)源:AC220V±22V 50Hz±1Hz
上海儀電 原上海精科/上分 UV-757CRT紫外分光光度計
上海儀電 原上海精科/上分 UV-757CRT紫外分光光度計
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上海屹利科學儀器有限公司 www.elab17.cn
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